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2022-06-02
高溫絕緣電阻測試儀用于測量電線絕緣的電阻,完整性和安全性。由于電絕緣層破裂,可能會發(fā)生許多危險。電擊和人員傷害,系統(tǒng)故障以及機械故障,火災(zāi)隱患以及必定的停機時間成為主要問題。絕緣測試有多種*的測試方法??紤]絕緣電阻時,主要執(zhí)行三種不同的測試。它們用于電動機,變壓器和發(fā)電機,但也可以用于電線和電纜。請注意,絕緣測試僅應(yīng)在斷電的電路上執(zhí)行。現(xiàn)場閱讀測試點讀測試是在相同時間間隔內(nèi)以固定電壓進行的一次絕緣測試,通常是按照常規(guī)維護計劃進行的。每次測試的時間間隔通常不少于60秒。每年都會...2022-05-26
如果電壓作用時間很短(例如以下),固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿,擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時間的增長,擊穿電壓將下降,如果在加電壓后數(shù)分鐘到數(shù)小時才引起擊穿,則熱擊穿往往起主要作用。不過二者有時很難分清,例如在工頻交流耐壓試驗中的試品被擊穿,常常是電和熱雙重作用的結(jié)果。電壓作用時間長達數(shù)十小時甚至幾年才發(fā)生擊穿時,大多屬于電化學(xué)擊穿的范疇。以常用的油浸電工紙板為例,在圖中,以頻擊穿電壓(峰值)作為基準(zhǔn)值,縱坐標(biāo)以標(biāo)么值來表示。電擊穿與熱擊穿的分界點時間約在之間,作用時間大...2022-05-23
優(yōu)點1:更高頻率的測量提高了內(nèi)置放大器的輸出頻率、采用FPGA高速采集,實現(xiàn)電滯回線*大500KHz的測試頻率。*大40M的高速采集。同時內(nèi)置的高速信號發(fā)生裝置,硬件支持*快脈沖100ns的波形觸發(fā),J大提高了脈沖測試速度。優(yōu)點2:更完善的測量功能比現(xiàn)有的鐵電分析儀,增加了TSDC、熱釋電、電卡、阻抗、電阻、擊穿等測量功能。預(yù)留4通道高速接口,方便擴展高低溫測試環(huán)境。在功能材料的電學(xué)測試,可輕松實現(xiàn)一套系統(tǒng)完成電學(xué)測試。優(yōu)點3:更嚴(yán)格的質(zhì)量管控嚴(yán)格做好每一款產(chǎn)品質(zhì)量把控,從原...2022-05-11
電壓擊穿試驗儀,又叫電壓擊穿測試儀,主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試。該設(shè)備試驗過程又可由單片機實現(xiàn)控制,試驗結(jié)果顯示在液晶屏上,同時也可通過通訊口把數(shù)據(jù)傳給計算機由計算機控制試驗過程及處理試驗數(shù)據(jù)。電壓擊穿試驗儀規(guī)格型號選擇:電壓擊穿試驗儀HCDJC-10KV主要用于薄膜材料,丙烯薄膜聚乙烯薄膜.聚酯薄膜,流延聚丙烯薄膜。電壓擊穿試驗儀HCDJC-20KV主要適用于橡膠,絕緣漆漆膜,聚...2022-05-10
產(chǎn)品用途據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T13541-92電氣用塑料薄膜試驗方法》,電氣用塑料薄膜要求進行電弱點測試,在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(電弱點)數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點測試儀,無須將膜卷分切成小卷,根據(jù)薄膜的使用寬度直接進行電弱點測試。由于薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷,該儀器引用“電弱線”概念,即在規(guī)定的時間內(nèi)檢測到的試樣漏電流均超過1mA時,認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存在縱向劃痕,從而產(chǎn)生“電弱線”,測試儀統(tǒng)計的電弱點總數(shù)為電弱點數(shù)與電弱線數(shù)之和...2022-05-09
測試原理1、擊穿、耐壓試驗就是對被試品施加一定的電壓,并保持一定時間,以考慮被試品絕緣承受各種電壓的性能。絕緣電阻和吸收比試驗、泄漏電流和直流耐壓試驗以及介質(zhì)損失角測量試驗等雖然能發(fā)現(xiàn)很多絕緣缺陷,但因其試驗電壓低于被試品的工作電壓,往往對一些絕緣缺陷還不能及時發(fā)現(xiàn),為了進一步暴露設(shè)備缺陷,檢查電氣設(shè)備絕緣水平和確保是否能投入運行,有必要進行交流擊穿及耐壓試驗。2、它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強度有效直接的方法,它對于判斷電器設(shè)備能否投入運行具有決定性的意義。交流耐壓試驗的電壓、波形...2022-05-06
影響介電性能的因素有哪些?1)頻率因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的ε和taδ幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。2)溫度損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個至大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這...