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2021-04-21
耐高溫絕緣材料在汽車零部件、半導(dǎo)體工業(yè)、航天工業(yè)、石化行業(yè)、機(jī)械工業(yè)、行業(yè)、電子電器等等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用，主要還是因為它具有以下耐性：1、耐高溫性能：玻璃化溫度高達(dá)143C，熔點(diǎn)為343C，經(jīng)GF或CF填充后，熱變形溫度高達(dá)315C以上，長期使用溫度為260C。2、耐水解性：在高溫蒸汽和熱水中長期浸泡仍能夠保持良好的機(jī)械性能，是樹脂中抗水解性能較好的品種。3、耐化學(xué)藥品性：除了高濃度濃硫酸等強(qiáng)氧化性酸的侵蝕，耐高溫絕緣材料具有近似于PTFE樹脂的耐化學(xué)品性，而且在各種化學(xué)試...2021-04-21
熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較測量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對材料升溫一面進(jìn)行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料)中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能H、松弛時間等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同H或松弛時間的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數(shù)。因為熱刺激電流與材料的這些參數(shù)（如H與松弛時間）密切相關(guān)，故它是一種研究介電材料、絕緣材料、半導(dǎo)體材料等...2021-04-20
高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。高溫四探針綜合測試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)：1、符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》2、符合GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》最后我們來了解一下高溫四探針綜合測試系統(tǒng)的應(yīng)用：1、測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材...2021-04-20
電流表又稱“安培表”，是測量電路中電流大小的工具，主要采用磁電系電表的測量機(jī)構(gòu)。分流器的電阻值要使?jié)M量程電流通過時，電流表滿偏轉(zhuǎn)，即電流表指示達(dá)到*。對于幾安的電流，可在電流表內(nèi)設(shè)置zhuan用分流器。用于測量直流電流、交流電流的機(jī)械式指示電流表在電路圖中，電流表的符號為“圈A”，電流表是分為交流電流表和直流電流表。交流表不能測直流電流，直流表也不能測交流電流，如果搞錯，會把表燒壞。電流表工作原理是什么呢？電流表是跟據(jù)通電導(dǎo)體在磁場中受磁場力的作用而制成的。電流表內(nèi)部有一永磁...2021-04-19
目前高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實現(xiàn)溫度的高的精度測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現(xiàn)高的精度，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布?？蓪崿F(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱式樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高出純度氣體中加熱。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，溫度斜率爐，階段加熱爐。它提高了加熱試驗?zāi)芰?。同電阻爐和其他爐相比，紅...2021-04-19
一、產(chǎn)品介紹基于瞬態(tài)平面熱源法技術(shù)（TPS）的導(dǎo)熱系數(shù)測試儀。該產(chǎn)品測試性能穩(wěn)定，數(shù)據(jù)處理分析能力強(qiáng)，可用于各種不同類型材料的熱傳導(dǎo)性能的測試。二、測試對象材料類型：金屬、陶瓷、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料（表面平整的隔熱材料、板材）、聚氨酯、酚醛、礦物綿（玻璃棉、巖棉、礦棉）、水泥墻體、玻璃增強(qiáng)復(fù)合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼板復(fù)合板材、紙蜂窩板等。三、儀器特點(diǎn)1、測試范圍廣泛，測試性能穩(wěn)定。2、智能化的人機(jī)界面，彩色大屏液晶顯示。3、簡潔的操作，...2021-04-16
高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。那么高溫四探針測試儀的測量原理是什么呢？測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等，四探針法則是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法，高溫四探針測試儀采用經(jīng)典直排四探針原理，同時采用了雙電測組合四探針法。直排四探針法經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率，要求使用等間距的探針，如果針間距離不等或探針有游移，就會...
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